适用器件：各种封装的二极管、三极管、场效应管、可控硅、IGBT等器件进行高温反偏试验（HTRB）和高温栅偏试验（HTGB）。
试验温度：温度范围：-20°C~＋180°C；温度波动：±0.3°C；温度偏差：±1.5°C（-20°C~+150°C），±2.5°C（150.1°C~180°C）；湿度范围：10%rh ~98%rh；
湿度偏差：±2.5%rh；带自动补水功能。单腔内部尺寸≥600× 830 x800（mm）
总内容积≥400L
试验通道：16个试验通道（试验区8区，电源8台，提供老化板16块）
试验容量：80×16=1280位
电源规格：有20V、100V、200V、300V、600V、1000V、1200V、2000V电源规格可供选择（栅极电源：每通道独立电源，电压±30V）
基本功能：
断电保护：如突然断电；工控机会有UPS确保试验数据的安全保存，同时记录断电时间。此时，报警灯会提醒断电（直至UPS电源耗尽），系统电源切断。当再次来电时，整机不会自动启动，直至人工干预再继续工作。
远程监控：能远程监控，可在手机端查询实时数据并可进行相关控制操作。
