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小型/大型冷热冲击试验箱

小型电子器件验证评估的理想设备、大型电子器件验证评估的最佳手段

产品详情

TSE-12-A 是一款小型提篮式冷热冲击试验箱。主要用于评估小型电子元器件、零部件及材料在极端温度快速变化条件下的性能和可靠性。其特点是体积小巧,操作方便,适用于研发、生产和质量控制等环节。

TSD-101-W 是一款大型提篮式冷热冲击试验箱。它主要用于评估较大尺寸或较多数量的电子元器件、零部件及材料在极端温度快速变化条件下的性能和可靠性。

产品参数

TSE-12-A 小型提篮式冷热冲击试验箱的主要技术参数如下

● 温度范围: -65℃~+200℃

● 温度冲击时间: ≤5秒

● 温度恢复时间: ≤5分钟

● 温度均匀性: ±2℃

● 温度波动度: ±0.5℃

● 内容积: 12L

● 内尺寸(W×H×D): 200mm×200mm×300mm

● 外尺寸(W×H×D): 600mm×800mm×700mm

● 控制方式: 可编程控制器或计算机控制

● 电源: 单相AC 220V 50Hz

TSD-101-W 大型提篮式冷热冲击试验箱的主要技术参数如下:

● 温度范围: -70℃~+200℃

● 温度冲击时间: ≤10秒

● 温度恢复时间: ≤10分钟

● 温度均匀性: ±2℃

● 温度波动度: ±0.5℃

● 内容积: 101L

● 内尺寸(W×H×D): 450mm×450mm×500mm

● 外尺寸(W×H×D): 1200mm×1500mm×1100mm

● 控制方式: 可编程控制器或计算机控制

● 电源: 三相AC 380V 50Hz

产品特点

TSE-12-A

温度恢复时间低于5分钟

不使用液氮辅助冷却-65~+150℃两温区冲击试验可以轻松试验5分钟转换,接近大型设备的能力。转换点温度均匀度好,样件曝露应力等同。

设备短小精悍,静音节能

占地面积仅为1.2㎡却可最大承载8kg样件。设备正常运转时声音低于60dB,小时发热量不高于5kW。

设计细节考究、方便操作使用

自主技术的大型彩色液晶触摸对话式控制器,侧面缆线孔方便外部负载及内部数据连接,通过选购接口可进行网络监控。

TSD-101-W

出色的温度均匀性能

内胆设计合理,空气循环无死角易扩散。温控精密,温度恢复快到达点处无过冲。波动度计量满足GB5170标准。

满足标准的样件温度恢复要求

美军标及许多行业标准要求样件进行表面恢复时间的控制,通过标配的SST传感器可与控制器联动,轻松完美再现标准条件。

结构设计周全,真正实用着想

提篮式缓动机构防止给样件带来多余的颤动影响,常温恢复结束功能可防止样件受到剧烈的外界温度冲击。侧面缆线孔方便外部负载及内部数据连接。

示意图
小型/大型冷热冲击试验箱
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